Görüntüleme Lab.
sem-taramal-elektron-mikroskobu

SEM (Taramalı Elektron Mikroskobu)

Marka:FEI

Model: Quanta FEG 250

Taramalı Elektron Mikroskobu, yüksek çözünürlükte yüksek büyütmelerde görüntü sağlayan cihazdır. Numune giriş bölmesi, elektron kaynağı, dedektörler, vakum sistemi, görüntüleme ve bilgi işlem ünitesi olmak üzere 5 temel kısımdan oluşur. Yüksek vakum koşullarında elektron sinyal görüntüleri alınarak yüzey mikroyapı analizi, kesit mikroyapı analizi, toz karakterizasyonu, noktasal elementel analiz, çizgisel elementel analiz, alan elementel analiz ve elementel haritalama yapılabilmektedir. ETD, STEM, EDS, LFD ve GSED dedektörleri ve faz değişimlerinin tespit edilmesinde kullanılan Peltier Stage modülü mevcuttur.

Cihazdan Sorumlu Kişiler

Diğer Cihazlar

Start typing and press Enter to search

X