Görüntüleme Lab.
xrd

XRD (X-Işını Difraksiyonu)

Marka: Bruker

Model: D8 Advance

X-ışını difraksiyonu (XRD), kristalin atomik ve moleküler yapısını incelemek için kullanılan bir yöntemdir. Prensip olarak, bir X-ışını demetindeki ışınların kristale özel çeşitli yönlerde kırınımı olayına dayanır. X-ışını difraksiyonu ölçümünde bir açıölçerin üzerine yerleştirilen kristal, yavaş yavaş döndürülürken X-ışınlarıyla bombardımana tabi tutulması neticesinde kırınıma uğrayan ışınlar yansımalar olarak bilinen düzenli aralıklarla dizilmiş bir kırınım deseni oluşturur. Örneklerin X-ışını kırınım deseni elde edildikten sonra yapılan kalitatif analizlerde, sistem kütüphanesinde bulunan datalar ile karşılaştırma yapılarak fazlar belirlenebilmektedir. Cihaz polikristal yapıdaki toz, katı ve ince film örneklerin ölçümünü gerçekleştirebilmektedir.

Cihazdan Sorumlu Kişiler

Diğer Cihazlar

Start typing and press Enter to search

X