AFM (ATOMİK KUVVET MİKROSKOBU)

Marka:Bruker 

Model: Edge3

Atomik kuvvet mikroskobu, yüksek çözünürlüklü görüntüleme imkânı sağlayan taramalı kuvvet mikroskobudur. Tarama alanı örneğe göre 100 mikronla birkaç nanometre arasında değişebilir. AFM’de, bir cantilever üzerine monte edilmiş birkaç nanometre ölçeğinde eğrilik yarıçapına sahip olan tip ile örnek yüzeyi arasındaki etkileşimleri kaydederek yüksek çözünürlüklü yüzey topografisi elde edilir. AFM yüzeye hem paralel hem de dik olarak konumsal bilgi sağlar. Analiz edilmek istenen örnek ve özelliğe bağlı olarak farklı tarama modları (temas, temassız, vurma gibi) kullanılır. Ayrıca uygun tipler kullanılarak numunenin elektriksel ve manyetik özellikleri hakkında bilgi verir. Yüksek çözünürlüklü topografik bilginin yanında örnek-tip etkileşmesini analiz ederek adezyon, sertlik gibi özellikler hakkında araştırma yapma imkanı sağlar.