TİTREŞİMLİ NUMUNE MANYETOMETRESİ (VSM)

X-ışını difraksiyonu (XRD), kristalin atomik ve moleküler yapısını incelemek için kullanılan bir yöntemdir. Prensip olarak, bir X-ışını demetindeki ışınların kristale özel çeşitli yönlerde kırınımı olayına dayanır. X-ışını difraksiyonu ölçümünde bir açıölçerin üzerine yerleştirilen kristal, yavaş yavaş döndürülürken X-ışınlarıyla bombardımana tabi tutulması neticesinde kırınıma uğrayan ışınlar yansımalar olarak bilinen düzenli aralıklarla dizilmiş bir kırınım deseni oluşturur. Örneklerin X-ışını kırınım deseni elde edildikten sonra yapılan kalitatif analizlerde, sistem kütüphanesinde bulunan datalar ile karşılaştırma yapılarak fazlar belirlenebilmektedir. Cihaz polikristal yapıdaki toz, katı ve ince film örneklerin ölçümünü gerçekleştirebilmektedir.